MICROFC-SMTPA-10035-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-10035 SiPM Sensor, 3 x Through Hole Pins, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMTPA-10035-GEVB
| Содержимое Комплекта | eval board microfc-10035-smt |
| Производитель Чипа | on semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | microfc-10035-smt |
| Подтип Приложения | silicon photomultiplier sensor(sipm) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMTPA-10010-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-10010 SiPM Sensor, 3 x Through Hole Pins, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMTPA-10010-GEVB
| Содержимое Комплекта | Eval Board MICROFC-10010-SMT |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | MICROFC-10010-SMT |
| Подтип Приложения | Silicon Photomultiplier Sensor (SiPM) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMA-60035-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-60035 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-60035-GEVB
| Содержимое Комплекта | Eval Board MICROFC-60035-SMT |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | MICROFC-60035-SMT |
| Подтип Приложения | Silicon Photomultiplier Sensor (SiPM) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMA-30050-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-30050 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-30050-GEVB
| Содержимое Комплекта | Eval Board MICROFC-30050-SMT |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | MICROFC-30050-SMT |
| Подтип Приложения | Silicon Photomultiplier Sensor (SiPM) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMA-30035-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-30035 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-30035-GEVB
| Содержимое Комплекта | eval board microfc-30035-smt |
| Производитель Чипа | on semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | microfc-30035-smt |
| Подтип Приложения | silicon photomultiplier sensor(sipm) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMA-10035-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-10035 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-10035-GEVB
| Содержимое Комплекта | eval board microfc-10035-smt |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | microfc-10035-smt |
| Подтип Приложения | silicon photomultiplier sensor(sipm) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE при 420 нм и расширенная чувствитель…
MICROFC-SMA-10020-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-10020 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-10020-GEVB
| Содержимое Комплекта | Eval Board MICROFC-10020-SMT |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | MICROFC-10020-SMT |
| Подтип Приложения | Silicon Photomultiplier Sensor (SiPM) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE на 420 нм и расширенная чувствительн…
MICROFC-SMA-10010-GEVB, Evaluation Board, MicroFC-10010 SiPM Sensor, 3 x SMA Connectors, Bias Voltage
Производитель: ONSEMI, MICROFC-SMA-10010-GEVB
| Содержимое Комплекта | Eval Board MICROFC-10010-SMT |
| Производитель Чипа | On Semiconductor |
| Номер Ядра Чипа | MICROFC-10010-SMT |
| Подтип Приложения | Silicon Photomultiplier Sensor (SiPM) |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Более 40% PDE при 420 нм и расширенная чувствитель…
MD-42688-P, Evaluation Kit, ICM-42688-P/ICP-10101, Smart Multi-Sensor Wireless Modules
Производитель: Invensense, MD-42688-P
| Производитель Чипа | Invensense |
| Номер Ядра Чипа | ICM-42688-P, ICP-10101 |
| Тип Приложения Набора | Возможность Беспроводного Подключения |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Интеллектуальный мультисенсорный беспроводной моду…
MAXM86146EVSYS#, Evaluation Kit, MAXM86146, Data Acquisition System
Производитель: Maxim Integrated Products, MAXM86146EVSYS#
| Производитель Чипа | Maxim Integrated Products |
| Номер Ядра Чипа | MAXM86146CFU+ |
| Подтип Приложения | Система Сбора Данных |
| Тип Приложения Набора | датчик |
Макетные Платы, Инструменты Оценки\Комплекты Разработчика Измерительных Устройств • Оценочный комплект для MAXM86146 • Поддержива…